dc.description.abstract |
Рассмотрены изменения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь, сравнение свойств изоморфного семейства чистых кристаллов KDPи кристаллов легированных различными примесями. Показано, что благодаря допированию кристаллов можно получать материалы с нужными свойствами, которые могут быть полезны в различных применениях, в частности в технике накопителей электричества. Или, добиваясь меньшего тангенса угла диэлектрических потерь, мы получаем меньшее рассеивание энергии на изоляционных материалах. |
en_US |